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XMEDA1008-晶圆检测系统
    发布时间: 2024-10-14 16:24    

XMEDA1008图案晶圆检测系统为200mm和300mm的IC晶圆厂针对从1Xnm到50nm工艺节点的IC芯片制造提供了多样化生产选择。系统凭借深紫外(DUV)激光源所提供的高灵敏度,确保用户的使用体验达到最佳状态。XMEDA1008检测机台已经业界头部厂商验证,可提供稳定的量产性能,易于维修和维护,并且可以随着晶圆厂检测要求提高而进行系统升级。极具竞争力的价格,让更多的消费者可以享受到这款产品的带来的便利和舒适。

XMEDA1008-晶圆检测系统
光电新材料
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