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XMAPll000－先进

半导体缺陷检测装备

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<p>本设备是款基千偏正光学原理的高端检测系统，专门用千各类精密件的缺陷检测与标记。其核心</p>
XMEDA1008-晶圆

半导体缺陷检测装备

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<p><span style=";font-family:*KSLBTMFZZJ0_17_0;color:rgb(26,26,26);font-size:13px"><span style="font-family:*KSLBTMFZZJ0_17_0">XMEDA1008图案晶圆检测系统为200mm和300mm的IC晶圆厂针对从1Xnm到50</span></span></p>
XMCDA20-

半导体缺陷检测装备

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<p>(28nm制程节点固形缺陷检查装备）<br/>可以为28-SSnm节点提供高效的在线图案缺陷检测及其</p>

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