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半导体缺陷量测装备
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半导体缺陷量测装备
生物医疗器械设备
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电动Z轴
电动手轮键盘
丝杆模组水平机
丝杆模组垂直机
电动物镜切换转台
电动位移平台
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晶圆缺陷检测装备-01
半导体缺陷量测装备
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<p><span style="text-wrap-mode: wrap; font-family: "Microsoft YaHei"; background-color: rgb(249, 249, 249);"></span></p><p>XM CDA20<span style="background-color: rgb(249, 249, 249); font-family: "Microsoft YaHei";">(28nm制程节点固形缺陷检查装备)</span></p><p><span style="text-wrap-mode: wrap; font-family: "Microsoft YaHei"; background-color: rgb(249, 249, 249);">可以为28-SSnm节点提供高效的在线</span></p>
晶圆缺陷检测装备-02
半导体缺陷量测装备
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<p>XMCMP3</p><p>(14nm制程节点图形缺陷检查装备)</p><p>将UV光学照射元件与多个高速成像传感器相结</p>
3D叠片对准检测装备
半导体缺陷量测装备
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<p>本设备是 款基千偏正光学原理的高端检测系统, 专门用千各类精密件的缺陷检测与标记。 其核心</p>
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