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晶圆缺陷检测装备-01
半导体缺陷量测装备
市场价:
0.00
价格:
0.00
<p><span style="text-wrap-mode: wrap; font-family: "Microsoft YaHei"; background-color: rgb(249, 249, 249);"></span></p><p>XM CDA20<span style="background-color: rgb(249, 249, 249); font-family: "Microsoft YaHei";">(28nm制程节点固形缺陷检查装备)</span></p><p><span style="text-wrap-mode: wrap; font-family: "Microsoft YaHei"; background-color: rgb(249, 249, 249);">可以为28-SSnm节点提供高效的在线</span></p>
晶圆缺陷检测装备-02
半导体缺陷量测装备
市场价:
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<p>XMCMP3</p><p>(14nm制程节点图形缺陷检查装备)</p><p>将UV光学照射元件与多个高速成像传感器相结</p>
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